熱老化試驗箱產(chǎn)品介紹：

熱老化試驗箱主要技術(shù)參數：
型號:SVT-1
測試槽尺寸：92＊285＊40（W＊D＊H）mm   3/4SET
加熱時(shí)間：RT～98℃About50min
溫度穩定度：±0.3℃
內箱材質(zhì)：304﹟不銹鋼
外箱材質(zhì)：烤漆涂裝或304﹟不銹鋼
符合標準：GB、ISO、ASTM、UL、CEN…

熱老化試驗箱用途：該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時(shí)間試驗;半導體、被動(dòng)組件、零件接腳氧化試驗。  

熱老化試驗箱特點(diǎn)：
1.微電腦溫度控制器P.I.D. + P.W.M. + S.S.R. 控制LED數字顯示.
2.白金溫度感知器（PT-100）與精確的溫度可控制解析能力0.1C.
3.蒸汽試驗目標溫度設定控制/蒸汽試驗運轉計時(shí)時(shí)間設定控制.
4.全自動(dòng)安全保護裝置、雙重高溫保護/蒸汽用水斷水空焚保護裝置

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