高溫蒸煮儀用途：該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時(shí)間試驗;半導體、被動(dòng)組件、零件接腳氧化試驗。 

 
高溫蒸煮儀特點(diǎn)：
1.微電腦溫度控制器P.I.D. + P.W.M. + S.S.R. 控制LED數字顯示.
2.白金溫度感知器（PT-100）與精確的溫度可控制解析能力0.1C.
3.蒸汽試驗目標溫度設定控制/蒸汽試驗運轉計時(shí)時(shí)間設定控制.
4.全自動(dòng)安全保護裝置、雙重高溫保護/蒸汽用水斷水空焚保護裝置..

高溫蒸煮儀參數：
　　a.型號:PCT-35
　　b.內部尺寸:Φ350×D500（mm）外部尺寸:580×850×650（mm）
　　c.溫度范圍:100℃～132℃
　　d.濕度范圍:00%RH飽和蒸氣
　　e.壓力范圍:環(huán)境大氣壓+0～4kg/cm2
　　f.循環(huán)方式:水蒸氣自然對流循環(huán)
　　g.內箱材質(zhì):不銹鋼板材質(zhì)#SUS304外箱材質(zhì):不銹鋼板材質(zhì)#SUS304
　　h.時(shí)間范圍:0～999Hr加壓時(shí)間:0.00Kg～2.00Kg/cm2約45分鐘

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